Descrizione
Il nuovissimo analizzatore a fluorescenza a raggi X (XRF) portatile Vanta Element di Olympus permette di realizzare analisi per l’identificazione di qualità di lega e la cernita in appena un secondo.
Le veloci operazioni di identificazione di qualità di lega e di confronto di qualità di lega sul display accelerano le analisi nell’ambito della cernita di scarti metallici e della produzione di metalli
L’interfaccia utente simile, a quella di uno smartphone, è di semplice uso, riducendo i tempi di formazione degli utenti e agevolando il processo di cernita.
Funzionalità avanzate dell’analizzatore XRF
Gli analizzatori Vanta Element includono le funzionalità di connettività per facilitare la realizzazione dei processi di controllo qualità e di riciclaggio di scarti metallici.
Risultati precisi e ripetibili
Componentistica elettronica Vanta
Stabilità e velocità di conteggio dell’Axon Technology™
Pratica gestione dei dati
Connettività wireless (opzionale) per un semplice trasferimento dei dati in una cartella di rete
Archiviazione dei dati in Cloud e visualizzazione in tempo reale dei dati in remoto mediante l’Olympus Scientific Cloud™
Esportazione diretta a un supporto USB
Scheda microSD™ di qualità industriale da 1 GB per l’archiviazione dei risultati
Resistente e economico
Costruito per ambienti difficili, l’analizzatore ha un minore costo di proprietà
Certificato IP 54 per la protezione dalla polvere e dall’umidità
Testato per le cadute (MIL-STD-810G) per una maggiore resistenza in seguito a cadute e per una riduzione dei costi di riparazione
Conforme a un uso continuo da -10 °C a 45 °C
Componente frontale in acciaio inossidabile per la protezione all’usura
Resistente e spessa (50 µm) pellicola in Kapton® per la protezione dell’analizzatore
Sostituzione della pellicola facile e senza l’uso di attrezzi.
